|
|
González-Domínguez, Pablo Ignacio ; Monzón-Verona, José Miguel ; García-Alonso, Santiago Fecha de publicación: 2019 Localización: Applied Sciences [ISSN 2076-3417], v. 9 (21) SJR: 0,418 - Q1 JCR: 2,474 - Q2 SCIE Artículo |
Aguasca-Colomo, Ricardo ; Castellanos-Nieves, Dagoberto; Méndez, Máximo Fecha de publicación: 2019 Localización: Applied Sciences (Basel) [ISSN 2076-3417], v. 9 (22), 4931 SJR: 0,418 - Q1 JCR: 2,474 - Q2 SCIE Artículo |
Ortega Sarmiento, Samuel ; Fabelo Gómez, Himar Antonio ; Halicek, Martin; Camacho Galán,Rafael ; Plaza Pérez, María De La Luz , et al. Fecha de publicación: 2020 Localización: Applied Sciences (Basel) [EISSN 2076-3417], v. 10 (13), 4448, (Julio 2020) SJR: 0,435 - Q2 JCR: 2,679 - Q2 SCIE Artículo |
Ruiz García, Alejandro ; De La Nuez Pestana, Ignacio Agustín Fecha de publicación: 2020 Localización: Applied Sciences [ISSN 2076-3417], v. 10 (14), 4748 SJR: 0,435 - Q2 JCR: 2,679 - Q2 SCIE Artículo |
Uteng, Stig; Johansen, Thomas Haugland; Zaballos, Jose Ignacio; Ortega, Samuel ; Holmström, Lasse, et al. Fecha de publicación: 2020 Localización: Applied Sciences (Switzerland)[EISSN 2076-3417],v. 10 (7), (Abril 2020) SJR: 0,435 - Q2 JCR: 2,679 - Q2 SCIE Artículo |
Sandoval González, Juan Domingo ; Delgado Morales, Keyla ; Fariña Santana, Esteban David ; de la Puente, Fernando ; Esper-Chaín Falcón, Roberto , et al. Fecha de publicación: 2022 Localización: Applied Sciences (Switzerland) [EISSN 2076-3417], v. 12 (21), 11087, (Noviembre 2022) SJR: 0,507 - Q2 JCR: 2,7 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 10,5 Artículo |
Quintana Hernández, José Juan ; Ferrer Ballester, Miguel Ángel ; Díaz Cabrera, Moisés ; Feo García, José Juan ; Wolniakowski, Adam, et al. Fecha de publicación: 2022 Localización: Applied Sciences (Basel) [ISSN 2076-3417], v. 12 (23), 12045 (Noviembre 2022) SJR: 0,507 - Q2 JCR: 2,7 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 10,5 Artículo |
Cruz-Acosta, Jose Manuel; Galante Sempere, David ; Lalchand Khemchandani, Sunil ; Del Pino Suárez, Francisco Javier Fecha de publicación: 2023 SJR: 0,507 - Q2 JCR: 2,7 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 10,5 Artículo |