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Cintra, Renato J.; Frery, Alejandro C. ; Nascimento, Abraão D C
Fecha de publicación: 2013
Localización: Pattern Analysis and Applications[ISSN 1433-7541],v. 16, p. 141-161
SJR: 0,47
- Q3
JCR: 0,742
- Q3
SCIE
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