Publicaciones


Cintra, Renato J.; Frery, Alejandro C. ; Nascimento, Abraão D C
Issued date: 2013
Source: Pattern Analysis and Applications[ISSN 1433-7541],v. 16, p. 141-161
SJR: 0,47
- Q3
JCR: 0,742
- Q3
SCIE
Artículo