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Socorro, F. ; Rodríguez De Rivera, M. Fecha de publicación: 1998 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1418-2874], v. 52, p. 729-737 SCIE Artículo
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Socorro, F. ; Rodríguez De Rivera, M. ; Jesus, Ch Fecha de publicación: 2001 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1418-2874], v. 64, p. 357-366 SCIE Actas de congresos
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Socorro, F. ; Rodríguez de Rivera, M. Fecha de publicación: 2003 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 72, p. 47-55 JCR: 1,094 - Q3 SCIE Artículo
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Auguet, C.; Lerchner, J.; Marinelli, P.; Martorell, F.; Rodriguez de Rivera, M. , et al. Fecha de publicación: 2003 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 71, p. 951-966 JCR: 1,094 - Q3 SCIE Reseña
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De Rivera, M. Rodríguez ; Socorro, F. Fecha de publicación: 2005 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 80, p. 769-773 JCR: 1,425 - Q2 SCIE Artículo
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Socorro, F. ; De Rivera, M. R. Fecha de publicación: 2005 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 80, p. 763-767 JCR: 1,425 - Q2 SCIE Artículo
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Kirchner, R.; De Rivera, M. Rodriguez ; Seidel, J.; Torra, V. Fecha de publicación: 2005 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 82, p. 179-184 JCR: 1,425 - Q2 SCIE Actas de congresos
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De Rivera, M. Rodríguez ; Socorro, F. Fecha de publicación: 2006 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 85, p. 477-479 JCR: 1,438 - Q2 SCIE Actas de congresos
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Socorro, F. ; De Rivera, M. Rodríguez Fecha de publicación: 2006 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 84, p. 285-289 JCR: 1,438 - Q2 SCIE Artículo
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De Rivera, M. Rodríguez ; Socorro, F. Fecha de publicación: 2007 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 87, p. 591-594 JCR: 1,483 - Q3 SCIE Artículo
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Rodríguez De Rivera, M. ; Socorro, F. Fecha de publicación: 2007 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 88, p. 745-750 JCR: 1,483 - Q3 SCIE Artículo
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Socorro, F. ; Rodríguez De Rivera, M. Fecha de publicación: 2007 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 88, p. 741-744 JCR: 1,483 - Q3 SCIE Artículo
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Rodríguez de Rivera Rodríguez, Manuel ; Socorro Lorenzo, Fabiola Fecha de publicación: 2007 Localización: Journal of thermal analysis and calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 88 (3), p. 745-750 JCR: 1,483 - Q3 SCIE Artículo
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Rodríguez de Rivera Rodríguez, Manuel ; Matos López, José Santiago; Socorro, F. Fecha de publicación: 2008 Localización: Journal Of Thermal Analysis And Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 92 (1), p. 79-82, (Abril 2008) JCR: 1,63 - Q3 SCIE Artículo
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Socorro, F. ; Mariano, A.; de Rivera, M. Rodriguez Fecha de publicación: 2008 Localización: Journal of thermal analysis and calorimetry [ISSN 1388-6150]. v. 92, n 1, p. 83-86 JCR: 1,63 - Q3 SCIE Artículo
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Socorro, F. ; Rodriguez de Rivera, M. Fecha de publicación: 2010 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 99, p. 799-802 JCR: 1,752 - Q3 SCIE Artículo
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Rodríguez De Rivera, M. ; Socorro, F. ; Matos, J. S. Fecha de publicación: 2010 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 99, p. 791-797 JCR: 1,752 - Q3 SCIE Artículo
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Jesús, Ch; Socorro, F. ; De Rivera, M. Rodríguez Fecha de publicación: 2012 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 110, p. 1523-1532 SJR: 0,596 - Q1 JCR: 1,982 - Q2 SCIE Artículo
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González De Chávez Menéndez, Jesús ; Socorro, F. ; Rodriguez de Rivera, M. Fecha de publicación: 2013 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 113 (3), p. 1003-1007, (Septiembre 2013) SJR: 0,458 - Q2 JCR: 2,206 - Q2 SCIE Artículo
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González De Chávez Menéndez, Jesús ; Socorro, F. ; Rodriguez de Rivera, M. Fecha de publicación: 2013 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 113 (3), p. 1009-1013, (Septiembre 2013) SJR: 0,458 - Q2 JCR: 2,206 - Q2 SCIE Artículo
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