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MacFarlane, Douglas R.; Choi, Jaecheol; Suryanto, Bryan H. R.; Jalili, Rouhollah; Chatti, Manjunath, et al Issued date: 2020 Source: Advanced Materials [ISSN 0935-9648], vol. 32(18) SJR: 10,707 - Q1 JCR: 30,849 - Q1 SCIE Artículo |
Alsabban, Merfat M.; Peramaiah, Karthik; Genovese, Alessandro; Ahmad, Rafia; Azofra, Luis Miguel , et al Issued date: 2024 Source: Advanced Materials [ISSN 0935-9648] SJR: 9,191 - Q1 JCR: 29,4 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |
Vazquez‐Martel, Clara; Florido Martins, Lilliana; Genthner, Elisa; Almeida Peña,Carlos ; Martel Quintana,Antera De Jesús , et al Issued date: 2024 Source: Advanced Materials[ISSN 0935-9648], (Enero 2024) SJR: 9,191 - Q1 JCR: 29,4 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |