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Line detection in images showing significant lens distortion and application to distortion correction
Alemán-Flores, Miguel
; Alvarez, Luis
; Gomez, Luis
; Santana-Cedrés, Daniel
Fecha de publicación: 2014
DOI:
10.1016/j.patrec.2013.06.020
Localización:
Pattern Recognition Letters [ISSN 0167-8655], v. 36, p. 261-271
SJR:
0,797
-
Q1
JCR:
1,551
-
Q2
SCIE
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