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Tubío, O.; Esper-Chaín, R. ; González, F.; Tobajas, F. ; De Armas Sosa, Valentín , et al. Fecha de publicación: 2002 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33, p. 1097-1105 JCR: 0,457 - Q3 SCIE Artículo |
Esper-Chaín, R. ; Tobajas, F. ; Sarmiento, R. Fecha de publicación: 2002 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33, p. 1107-1114 JCR: 0,457 - Q3 SCIE Artículo |
González, F.; Tubío, O.; Tobajas, F. ; De Armas Sosa, Valentín ; Esper-Chaín, R. , et al. Fecha de publicación: 2002 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33, p. 1115-1122 JCR: 0,457 - Q3 SCIE Actas de congresos |