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Tubío, O.; Esper-Chaín, R. ; González, F.; Tobajas, F. ; De Armas Sosa, Valentín , et al. Fecha de publicación: 2002 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33, p. 1097-1105 JCR: 0,457 - Q3 SCIE Artículo
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Navarro-Botello, Victor ; Montiel-Nelson, Juan A. ; Nooshabadi, Saeid Fecha de publicación: 2007 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 38, p. 482-488 JCR: 0,609 - Q3 SCIE Artículo
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García, José C. ; Montiel-Nelson, Juan A. ; Nooshabadi, Saeid Fecha de publicación: 2009 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 40, p. 1571-1581 JCR: 0,778 - Q3 SCIE Artículo
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Sosa, J. ; Montiel-Nelson, Juan A. ; Nooshabadi, Saeid Fecha de publicación: 2010 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 41, p. 135-141 JCR: 0,789 - Q3 SCIE Artículo
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Fernández, E.; Beriain, A.; Solar, H.; Rebollo, I.; García-Alonso, A., et al. Fecha de publicación: 2012 Localización: Microelectronics [ISSN 0026-2692], v. 43 (10), p. 708-713, (Octubre 2012) JCR: 0,912 - Q3 SCIE Artículo
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Montiel-Nelson, Juan A. ; Navarro, Víctor ; Sosa, Javier ; Bautista, Tomás Fecha de publicación: 2014 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 45, p. 1247-1253 JCR: 0,836 - Q3 SCIE Artículo
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Nooshabadi, S.; García Montesdeoca, José Carlos ; Montiel Nelson, Juan Antonio Fecha de publicación: 2017 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 60, p. 82-86 JCR: 1,322 - Q3 SCIE Artículo
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Montiel-Nelson, Juan A. ; Nooshabadi, S. ; García, José Carlos Fecha de publicación: 2018 Localización: Microelectronics [ISSN 0026-2692], v. 78, p. 11-15 JCR: 1,284 - Q3 SCIE Artículo
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