Publicaciones

González, L. ; García, D. ; Galván, B. 
Issued date: 2004
Source: IEEE Transactions On Reliability [ISSN 0018-9529], v. 53 (3), p. 297-305, (Septiembre 2004)
JCR: 0,828
- Q2
SCIE
Artículo
Sánchez Clemente, Antonio José ; Entrena, Luis; Hrbacek, Radek; Sekanina, Lukas
Issued date: 2016
Source: IEEE Transactions on Reliability [ISSN 0018-9529], v. 65(4), p. 1871-1883, (Diciembre 2016)
SJR: 1,335
- Q1
JCR: 2,79
- Q1
SCIE
Artículo