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López Feliciano, José Francisco ; Cortés, P.; López, S. ; Sarmiento, R. Fecha de publicación: 2001 Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 4591, p. 101-112 Actas de congresos |
López Feliciano, José Francisco ; Lalchand Khemchandani, Sunil ; Tobajas, F. ; López, S. ; Núñez, A. , et al. Fecha de publicación: 2001 Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 4591, p. 273-280 Actas de congresos |
Esper-Chaín, R. ; Tobajas, F. B. ; Sarmiento, R. Fecha de publicación: 2001 Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 4591, p. 221-230 Actas de congresos |
Celinski, Peter; López Feliciano, José Francisco ; Al-Sarawi, S.; Abbott, Derek Fecha de publicación: 2002 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33, p. 1071-1077 JCR: 0,457 - Q3 SCIE Actas de congresos |
López Feliciano, José Francisco ; Cortés, P.; López, S. ; Sarmiento, R. Fecha de publicación: 2002 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33(12), p. 1123-1134 JCR: 0,457 - Q3 SCIE Actas de congresos |
González, F.; Tubío, O.; Tobajas, F. ; De Armas Sosa, Valentín ; Esper-Chaín, R. , et al. Fecha de publicación: 2002 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33, p. 1115-1122 JCR: 0,457 - Q3 SCIE Actas de congresos |